テクトロニクス株式会社は、128 GT/sで動作するPCI Express®（PCIe®）7.0 Base設計に向けた新しい自動トランスミッタ／レシーバ・テスト・ソフトウェアを発表しました。

新しいTekExpress™ PCIe 7.0トランスミッタ・テスト・アプリケーションと、レシーバ・テスト・ソフトウェアであるTekRxTestの拡張されたPCIe 7.0機能により、トランスミッタ測定の自動化やストレス・レシーバ信号の校正、仕様要件に対する設計の検証が可能になります。また、PAMJETトランスミッタ解析ソフトウェアも拡張され、高度なPCIe 7.0機能に対応しました。

PCIe 7.0がもたらす性能向上と検証の課題

AIシステムの拡張に伴い、プロセッサ、アクセラレータ、メモリ、ストレージ、ネットワーク間におけるデータ移動の効率化が重要視されています。PCIe 7.0はデータ・レートをPCIe 6.0の2倍となる128 GT/sに引き上げ、16レーンで最大512 GB/sの双方向帯域幅をサポートします。

一方で、性能向上により電気的な誤差の許容範囲は大幅に狭まり、チャンネル損失やクロストーク、電源供給ノイズ、ジッタの分離が困難になる課題が生じます。テクトロニクスのシグナル・アクイジション／解析ポートフォリオ担当バイス・プレジデント兼ゼネラル・マネージャであるDaryl Ellis氏は、「PCIe 7.0設計を開発するお客様は、測定結果がテスト環境ではなくデバイスを反映しているという確信を必要としています」と述べています。

電気検証における3つの主要段階に対応

今回の新機能は、PCIe 7.0の電気検証における3つの段階に対応します。テクトロニクスの70GHzのDPO70000SXシリーズATIパフォーマンス・オシロスコープおよびアンリツ株式会社のMP1900A Signal Quality Analyzer-Rと組み合わせることで、統合テスト・ソリューションとして利用できます。

• トランスミッタ・テストの自動化：TekExpress PCIe 7.0トランスミッタ・テスト・アプリケーションが、信号対ノイズ／歪み比、レベル不整合比、ジッタ、トランスミッタ・プリセット・イコライゼーションなどの測定セットアップ、波形取り込み、解析、レポート作成を自動化します。
• レシーバの校正・検証の簡素化：TekRxTestがオシロスコープとMP1900Aを制御し、TP3およびTP2のストレス・アイ校正、プリセットおよび連続時間線形イコライゼーション（CTLE）の最適化、チャンネル検証を行います。
• 根本原因の特定：拡張されたPAMJET機能により、ノイズを考慮した測定、クロック・リカバリ、相関／合成アイ・ビュー、個々のPAM4遷移の解析、シンボル・エラー・イベントへの直接ナビゲーションが可能になります。

測定環境と後方互換性のサポート

TekExpressおよびTekRxTestは以前のPCIe世代のワークフローもサポートしており、後方互換性の検証が可能です。また、テクトロニクスはPCI-SIGのワーキング・グループやパスファインディング活動に参加しているほか、PCIe 5.0およびPCIe 6.0のGold Suite認定テスト・ベンダとしてPCI-SIGコンプライアンス・ワークショップもサポートしています。

本記事はテクトロニクス株式会社の発表をもとに作成しました。

Dellows News編集部

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