タカノ株式会社（長野県上伊那郡宮田村、代表取締役社長：鷹野 雅央）は、2026年9月30日（水）から10月2日（金）まで幕張メッセで開催される「第17回 高機能フィルム開発・製造展（FILMTECH JAPAN）」に出展します。

会場では、新発売の高速パターン付きフィルム外観検査装置を中心に、超高速無地フィルム外観検査装置「HAWKEYES ONE」やリアルタイム欠陥分類システム「TAKANO AI」、電子デバイスおよび半導体向けの各種検査装置が紹介されます。

高速パターン付きフィルム外観検査装置などを出展

5Gやビッグデータ、生成AIの普及を背景に電子部材向けフィルムや光学フィルムなどの需要が拡大する中、生産ラインの高速化や微細欠陥の見逃し防止、省人化への対応が求められています。同社はカメラから画像処理ユニット、検査アルゴリズムまで自社開発する強みを活かした解決策を提示します。

出展される主な製品は以下の通りです。

• 高速パターン付きフィルム外観検査装置：自社製カメラと新開発の画像処理システムによりラインレート100klpsの検査速度を実現した、Roll to Rollパターン印刷工程向けの外観検査装置（同社調べで業界最速級）。セラミックコンデンサや電子部材などのインライン検査に対応します。
• 超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE：自社製高性能カメラと画像処理ユニットを採用し、業界最速級（同社調べ）の検査速度を実現。ライン速度50m/minで分解能5μm、100m/minで10μm、200m/minで20μmの設定が可能です。光学フィルムや電子部材向けフィルム、エネルギー向けフィルムなど幅広く対応します。

会場ではこのほか、独自の画像処理技術を持つ無地フィルム外観検査装置「HAWKEYES ELITE」や、AI技術を活用したシステム、半導体向け装置も展示されます。

• TAKANO AI：欠陥検出と同時にAIが分類を行うリアルタイム欠陥分類システム。特徴量分類とAIを組み合わせた特許技術により品質管理を支援し、導入済み装置への後付けにも対応します。
• 半導体向け検査装置：2D/3D同時検査に対応したバンプ高さ検査装置「ALTAX」、配線パターンやクラックなどを高精度に検査するウェーハ外観検査装置「Viシリーズ」、ナノレベルの異物検出に対応するウェーハ表面検査装置「WM+シリーズ」などを揃えています。

• 開催日程：2026年9月30日（水）～10月2日（金）
• 開催時間：10:00～18:00（最終日のみ17:00終了）
• 開催場所：幕張メッセ
• 主催：RX Japan 合同会社
• 出展ブース番号：1ホール　4-26
• 公式HP：https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/film.html

• 会社名：タカノ株式会社（東京証券取引所スタンダード市場上場、証券コード：7885）
• 所在地：長野県上伊那郡宮田村137
• 代表者：代表取締役社長　鷹野 雅央
• 創業：1941年7月1日
• 設立：1953年7月18日
• 事業内容：事務用椅子、その他椅子等のオフィス家具、ばね、エクステリア製品、エレクトロニクス関連製品（画像処理検査装置、電磁アクチュエータ）、医療・福祉機器の製造ならびに販売
• URL：https://www.takano-net.co.jp

本記事はタカノ株式会社の発表をもとに作成しています。

Dellows News編集部

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